有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统应用在Fab厂，用于把控Wafer关键尺寸是否合格及套刻偏移量的计算与补偿。
实现产品的自动上料、自动检测、根据检测结果自动分拣下料
VX9000系列光学扫描成像测量机突破传统的测量方式，应用于PCB&FPC外型尺寸扫描测量、冲压五金件、车载屏面板、铝基板，高效执行“成型检验+孔品质检验+尺寸量测”，一键自动实现全尺寸扫描。
